电子材料真空放气性能的动态测试方法 |
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| 标准编号：SJ 3234-1989 |
标准状态：已废止 |
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| 标准价格：12.0 元 |
客户评分：  |
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本标准适用于电子材料在真空环境中热脱附的放气量、放气速率及就气成份的动态分析。 |
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| 英文名称： |
Test method for dynamic relating to vacuum gas emission properties of electronic material |
| 标准状态： |
已废止 |
 替代情况： |
公告：中华人民共和国工业和信息化部公告 2024年第17号 |
| 中标分类： |
综合>>标准化管理与一般规定>>A01技术管理 |
| 发布日期： |
1989-02-20 |
| 实施日期： |
1989-03-25
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| 作废日期： |
2024-07-11
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| 复审日期： |
2024-07-11 |
| 页数： |
7页 |
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