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标准编号	标准名称	发布部门	实施日期	状态
GB/T 6610.1-2003	氢氧化铝化学分析方法重量法测定水分	国家质量监督检验检疫.	2004-05-01	作废
GB/T 6610.2-1986	氢氧化铝化学分析方法重量法测定灼烧失量		1987-07-01	作废
GB/T 6610.2-2003	氢氧化铝化学分析方法重量法测定灼烧失量	国家质量监督检验检疫.	2004-05-01	作废
GB/T 6610.3-1986	氢氧化铝化学分析方法钼蓝光度法测定二氧化硅量		1987-07-01	作废
GB/T 6610.3-2003	氢氧化铝化学分析方法钼蓝光度法测定二氧化硅含量	国家质量监督检验检疫.	2004-05-01	作废
GB/T 6610.4-1986	氢氧化铝化学分析方法邻二氮杂菲光度法测定氧化铁量		1987-07-01	作废
GB/T 6610.4-2003	氢氧化铝化学分析方法邻二氮杂菲光度法测定三氧化二铁含量	国家质量监督检验检疫.	2004-05-01	作废
GB/T 6610.5-1986	氢氧化铝化学分析方法火焰光度法测定氧化钠量		1987-07-01	作废
GB/T 6610.5-2003	氢氧化铝化学分析方法氧化纳含量的测定	国家质量监督检验检疫.	2004-05-01	作废
GB 6611-1986	钛及钛合金术语	中国有色金属工业协.	1987-07-01	作废
GB/T 6611-2008	钛及钛合金术语和金相图谱	国家质量监督检验检疫.	2008-12-01	现行
GB/T 6612-1986	重要用途的TA7钛合金板材	中国有色金属工业协.	1987-07-01	作废
GB 6613-1986	重要用途的TC4钛合金板材	中国有色金属工业协会	1987-07-01	作废
GB 6614-1986	钛及钛合金铸件		1987-07-01	作废
GB/T 6614-1994	钛及钛合金铸件	国家技术监督局	1994-12-01	作废
GB/T 6614-2014	钛及钛合金铸件	国家质量监督检验检疫.	2015-06-01	现行
GB 6615-1986	硅片电阻率的直排四探针测试方法		1987-07-01	作废
GB 6616-1986	硅片电阻率的非接触式测试方法		1987-07-01	作废
GB/T 6616-1995	半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定非接触涡流法	国家技术监督局	1995-01-02	作废
GB/T 6616-2009	半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法非接触涡流法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	作废
GB 6617-1986	硅片电阻率的扩展电阻探针测试方法		1987-07-01	作废
GB/T 6617-1995	硅片电阻率测定扩展电阻探针法	国家技术监督局	1995-01-02	作废
GB/T 6617-2009	硅片电阻率测定扩展电阻探针法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	现行
GB 6618-1986	硅片厚度和总厚度变化的测试方法		1987-07-01	作废
GB/T 6618-1995	硅片厚度和总厚度变化测试方法	国家技术监督局	1995-01-02	作废
GB/T 6618-2009	硅片厚度和总厚度变化测试方法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	现行
GB 6619-1986	硅片弯曲度的接触式测试方法		1987-07-01	作废
GB/T 6619-1995	硅片弯曲度测试方法	国家技术监督局	1995-01-02	作废
GB/T 6619-2009	硅片弯曲度测试方法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	现行
GB 662-1978	化学试剂碳酸铵		1979-01-01	作废
GB 6620-1986	硅片翘曲度的非接触式测试方法		1987-07-01	作废
GB/T 6620-1995	硅片翘曲度非接触式测试方法	国家技术监督局	1995-01-02	作废
GB/T 6620-2009	硅片翘曲度非接触式测试方法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	现行
GB 6621-1986	硅抛光片表面平整度的非接触式测试方法		1987-07-01	作废
GB/T 6621-1995	硅抛光片表面平整度测试方法	国家技术监督局	1995-01-02	作废
GB 6622-1986	硅化学抛光片漩涡缺陷和条纹的测试方法		1987-07-01	作废
GB 6623-1986	硅抛光片表面热氧化层错的测试方法		1987-07-01	作废
GB 6624-1986	硅抛光片表面质量目测检验方法		1987-07-01	作废
GB/T 6624-1995	硅抛光片表面质量目测检验方法	国家技术监督局	1995-01-02	作废
GB/T 6624-2009	硅抛光片表面质量目测检验方法	国家质量监督检验检疫.	2010-06-01	现行

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