| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 1406.5-2008 |
灯头的型式和尺寸 第5部分：卡口式灯头 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-12-01 |
现行 |
| GB 1407-1996 |
卡口式灯头的型式和尺寸 |
国家技术监督局
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1997-09-01 |
作废 |
| GB/T 1408.1-1999 |
固体绝缘材料电气强度试验方法 工频下的试验 |
国家质量技术监督局
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2000-06-01 |
作废 |
| GB/T 1408.1-2006 |
绝缘材料电气强度试验方法 第1部分：工频下试验 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-04-01 |
作废 |
| GB/T 1408.1-2016 |
绝缘材料 电气强度试验方法 第1部分：工频下试验 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-07-01 |
现行 |
| GB/T 1408.2-2006 |
绝缘材料电气强度试验方法第2部分：对应用直流电压试验的附加要求 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-04-01 |
作废 |
| GB/T 1408.2-2016 |
绝缘材料 电气强度试验方法 第2部分:对应用直流电压试验的附加要求 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-07-01 |
现行 |
| GB/T 1408.3-2007 |
绝缘材料电气强度试验方法 第3部分：1.2/50μs脉冲试验补充要求 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-05-20 |
作废 |
| GB/T 1408.3-2016 |
绝缘材料 电气强度试验方法 第3部分：1.2/50μs冲击试验补充要求 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-07-01 |
现行 |
| GB/T 1409-1988 |
固体绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波长在内)下相对介电常数和介质损耗因数的试验方法 |
中国电器工业协会
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1989-07-01 |
作废 |
| GB/T 1409-2006 |
测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-06-01 |
现行 |
| GB/T 14094-1993 |
卤钨灯 |
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1993-08-01 |
作废 |
| GB/T 14094-2005 |
卤钨灯(非机动车辆用)性能要求 |
国家标准质量监督检验.
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2005-08-01 |
作废 |
| GB/T 14094-2016 |
卤钨灯（非机动车辆用）性能要求 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-11-01 |
现行 |
| GB/T 1410-1989 |
固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法 |
中国电器工业协会
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1990-01-01 |
作废 |
| GB/T 1410-2006 |
固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-06-01 |
作废 |
| GB/T 1411-1978 |
固体电工绝缘材料高压小电流间歇耐电弧试验方法 |
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1979-03-01 |
作废 |
| GB/T 1411-2002 |
干固体绝缘材料 耐高电压、小电流电弧放电的试验 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-01-01 |
现行 |
| GB/T 14134-1993 |
纸绝缘铅套市内通信电缆 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
废止 |
| GB/T 14135-1993 |
铜芯星绞铅套高频对称通信电缆 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
废止 |
| GB/T 14139-1993 |
硅外延片 |
国家技术监督局
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1993-10-01 |
作废 |
| GB/T 14139-2009 |
硅外延片 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-06-01 |
作废 |
| GB/T 14139-2019 |
硅外延片 |
国家市场监督管理总局.
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2020-05-01 |
现行 |
| GB/T 14140-2009 |
硅片直径测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-06-01 |
现行 |
| GB/T 14141-1993 |
硅外延层,扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法 |
国家技术监督局
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1993-10-01 |
作废 |
| GB/T 14141-2009 |
硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-06-01 |
现行 |
| GB/T 14142-1993 |
硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法 |
国家技术监督局
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1993-10-01 |
作废 |
| GB/T 14143-1993 |
300？900 UM 硅片间隙氧含量红外吸收测量方法 |
国家技术监督局
|
1993-10-01 |
作废 |
| GB/T 14144-1993 |
硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法 |
国家技术监督局
|
1993-10-01 |
作废 |
| GB/T 14144-2009 |
硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2010-06-01 |
现行 |
| GB/T 14145-1993 |
硅外延层堆垛层错密度测定干涉相衬显微镜法 |
国家技术监督局
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1993-10-01 |
作废 |
| GB/T 14146-1993 |
硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容--电压法 |
国家技术监督局
|
1993-10-01 |
作废 |
| GB/T 14146-2009 |
硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-06-01 |
作废 |
| GB 14196-1993 |
普通照明灯泡的安全要求 |
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1993-08-01 |
作废 |
| GB 14196.1-2002 |
家庭和类似场合普通照明用钨丝灯安全要求 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-04-01 |
作废 |
| GB 14196.1-2008 |
白炽灯安全要求 第1部分：家庭和类似场合普通照明用钨丝灯 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-04-01 |
现行 |
| GB/T 14196.1-2023 |
白炽灯 安全规范 第1部分：家庭和类似场合普通照明用钨丝灯 |
国家市场监督管理总局.
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2026-01-01 |
即将实施 |
| GB 14196.2-2002 |
家庭和类似场合普通照明用卤钨灯安全要求 |
国家质量监督检验检疫.
|
2003-04-01 |
作废 |
| GB 14196.2-2008 |
白炽灯安全要求 第2部分：家庭和类似场合普通照明用卤钨灯 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-04-01 |
现行 |
| GB/T 14196.2-2023 |
白炽灯 安全规范 第2部分：家庭和类似场合普通照明用卤钨灯 |
国家市场监督管理总局.
|
2026-01-01 |
即将实施 |