高纯四氯化硅中痕量磷的分光光度比色测试方法 |
 |
| 标准编号：SJ 2595-1985 |
标准状态：已废止 |
|
| 标准价格：14.0 元 |
客户评分：  |
|
|
立即购买工即可享受本标准状态变更提醒服务！ |
|
|
|
|
|
|
本方法适用于生长半导体器件及电路用硅外延片、多晶硅和光通讯器件用光纤予制件的高纯四氯化硅中磷含量的测试方法。 |
|
|
|
| 英文名称： |
Method for the analysis of trace phosphorous in pure SiC14-Method spectrophotometry |
| 标准状态： |
已废止 |
 替代情况： |
公告：中华人民共和国工业和信息化部公告 2024年第17号 |
| 中标分类： |
综合>>标准化管理与一般规定>>A01技术管理 |
| 发布日期： |
1985-07-31 |
| 实施日期： |
1984-01-01
|
| 作废日期： |
2024-07-11
|
| 复审日期： |
2024-07-11 |
| 页数： |
8页 |
| 标准前页： |
|
|
|
|
|
| |
|
客服中心 |
| 有问题？找在线客服 |
 |
|
|
|
|
温馨提示：标准更新替换较快，请注意您购买的标准时效性。 |
|
|
|
|
| 必备软件下载 |
| Adobe Acrobat Reader 是一个查看、
阅读和打印PDF文件的最佳工具，通
过它可以查阅本站的标准文档 |
 |
|
|
|