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电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法

国家标准
标准编号:GB 5594.4-1985 标准状态:已作废
标准价格:20.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准适用于测定电子器件结构陶瓷材料在频率1MHz、温度从室温至500℃条件下的介质损耗角正切值。
英文名称:  Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for dielectric loss angle tangent value
标准状态:  已作废
什么是替代情况? 替代情况:  被GB/T 5594.4-2015代替
什么是中标分类? 中标分类:  >>>>L32
什么是ICS分类?  ICS分类:  31.030
什么是UDC分类?  UDC分类:  621.315.612;621.382/.387;620.1
发布部门:  国家标准局
发布日期:  1985-11-27
实施日期:  1986-12-01
作废日期:  2016-01-01
首发日期:  1985-11-27
复审日期:  2004-10-14
提出单位:  中华人民共和国电子工业部
什么是归口单位? 归口单位:  中华人民共和国电子工业部
主管部门:  信息产业部(电子)
起草单位:  天津大学
起草人:  徐延献
页数:  4页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  1986-12-01
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