颗粒硅总金属杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 |
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| 标准编号：YS/T 1755-2025 |
标准状态：即将实施 |
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| 标准价格：0.0 元 |
客户评分：  |
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本文件描述了电感耦合等离子体质谱仪测定流化床法颗粒硅中总金属含量的方法。
本文件适用于流化床法颗粒硅总金属，如铁、铬、镍、铜、钠、镁、铝、钾、钙、锌、钛、钼、钨、钴含量的测定，各元素检测范围为0.05ng/g～50ng/g。 |
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| 标准状态： |
即将实施 |
| 发布部门： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 发布日期： |
2025-04-10 |
| 实施日期： |
2025-11-01
即将实施 距离实施日期还有169天 |
| 出版社： |
冶金工业出版社 |
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