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纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法

国家标准
标准编号:GB/T 44075-2024 标准状态:即将实施
标准价格:38.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本文件描述了使用拉曼光谱成像分析法测量表面增强拉曼固相基片均匀性的方法,包括方法概要、仪器设备、试剂和材料、测试过程及测试报告等。
本文件适用于SERS固相基片均匀性测量。
英文名称:  Nanotechnology—Determination of the uniformity of SERS solid substrate—Raman mapping analysis
标准状态:  即将实施
什么是中标分类? 中标分类:  综合>>基础学科>>A42物理学与力学
什么是ICS分类?  ICS分类:  计量学和测量、物理现象>>长度和角度测量>>17.040.20表面特征
发布部门:  国家市场监督管理总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:  2024-05-28
实施日期:  2024-12-01  即将实施 距离实施日期还有25
提出单位:  中国科学院
什么是归口单位? 归口单位:  全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279)
起草单位:  苏州纳微科技有限公司、苏州市计量测试院、苏州大学、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、中国检验检疫科学研究院、江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司
起草人:  郭清华、朱建荣、姚建林、袁亚仙、方丹、姜江、席广成、卢荻、王震
页数:  20页
出版社:  中国标准出版社
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