|
英文名称: |
Nanotechnology—Determination of the uniformity of SERS solid substrate—Raman mapping analysis |
标准状态: |
即将实施 |
中标分类: |
综合>>基础学科>>A42物理学与力学 |
ICS分类: |
计量学和测量、物理现象>>长度和角度测量>>17.040.20表面特征 |
发布部门: |
国家市场监督管理总局 中国国家标准化管理委员会 |
发布日期: |
2024-05-28 |
实施日期: |
2024-12-01
即将实施 距离实施日期还有25天 |
提出单位: |
中国科学院 |
归口单位: |
全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279) |
起草单位: |
苏州纳微科技有限公司、苏州市计量测试院、苏州大学、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、中国检验检疫科学研究院、江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司 |
起草人: |
郭清华、朱建荣、姚建林、袁亚仙、方丹、姜江、席广成、卢荻、王震 |
页数: |
20页 |
出版社: |
中国标准出版社 |