通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分：终端 |
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| 标准编号：YD/T 3037.1-2023 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：0.0 元 |
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本文件规定了终端上通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性的测试方法，主要包括：电气特性、初始通信协议的建立、性能测试和功能测试。
本文件适用于支持大容量存储接口的终端接口的研发和生产。 |
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