通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分：UICC |
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| 标准编号：YD/T 3037.2-2023 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：0.0 元 |
客户评分：  |
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本文件规定了通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性的UICC部分测试方法，主要包括：物理特性、电气特性、初始通信协议的建立、功能测试和性能测试。
本文件适用于支持大容量存储接口的UICC卡的研发和生产。 |
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 替代情况： |
替代YD/T 3037.2-2016 |
| 发布部门： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 发布日期： |
2023-12-20 |
| 实施日期： |
2024-04-01
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| 出版社： |
人民邮电出版社 |
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