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| 英文名称： |
Time-domain test methods for space single event soft errors ofsemiconductor integrated circuit |
 中标分类： |
航空、航天>>航空器与航天器零部件>>V25电子元器件 |
| ICS分类： |
航空器和航天器工程>>49.140航天系统和操作装置 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2023-09-07 |
| 实施日期： |
2024-01-01
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| 提出单位： |
全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425) |
| 归口单位： |
全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425) |
| 起草单位： |
北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院 |
| 起草人： |
赵元富、陈雷、王亮、岳素格、郑宏超、李哲、林建京、李永峰、陈淼、王汉宁 |
| 页数： |
12页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |