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| 英文名称： |
Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging |
 中标分类： |
仪器、仪表>>仪器、仪表综合>>N05仪器、仪表用材料和元件 |
| ICS分类： |
玻璃和陶瓷工业>>玻璃>>81.040.01玻璃综合 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2022-10-12 |
| 实施日期： |
2023-05-01
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| 提出单位： |
中国机械工业联合会 |
| 归口单位： |
全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC 103) |
| 主管部门： |
全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC 103) |
| 起草单位： |
浙江大学、杭州晶耐科光电技术有限公司、中国科学院大连化学物理研究所、中国工程物理研究院激光聚变研究中心、中国科学院上海光学精密机械研究所、中国兵器工业标准化研究所、江苏皇冠新材料科技有限公司、福建福特科光电股份有限公司 |
| 起草人： |
杨甬英、曹频、李刚、杨李茗、刘旭、刘世杰、胡丽丽、徐晓飞、李炜娜、麦启波、黄木旺 |
| 页数： |
20页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |