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| 英文名称： |
Measurement of nanofilm thickness on glass substrate —Profilometric method |
 中标分类： |
建材>>陶瓷、玻璃>>Q34工业技术玻璃 |
| ICS分类： |
化工技术>>分析化学>>71.040.99有关化学分析方 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2017-05-31 |
| 实施日期： |
2017-12-01
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| 复审日期： |
2023-12-28 |
| 提出单位： |
中国科学院 |
| 归口单位： |
全国纳米技术标准化技术委员会纳米材料分技术委员会(SAC/TC 279/SC 1) |
| 主管部门： |
全国纳米技术标准化技术委员会纳米材料分技术委员会(SAC/TC 279/SC 1) |
| 起草单位： |
中国建筑材料科学研究总院、漳州旗滨玻璃有限公司、宣城晶瑞新材料有限公司、冶金工业信息标准研究院 |
| 起草人： |
孟政、刘静、候英兰、徐勇、戴石锋、汪洪、梁慧超、张继军、张庆华、代铮、张卫星、赵晋武、郎岩梅 |
| 页数： |
16页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2017-06-19 |