决绝缘砷化镓单晶微区均匀性测试方法 |
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| 标准编号：SJ 20844-2002 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：15.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了半绝缘砷化镓晶片中电阻率、碳浓度、EL2浓度和PL谱微区均匀性测量方法。本标准适用于半绝缘砷化镓晶片中电阻率、碳浓度、EL2浓度和PL谱微区均匀性的测试。 |
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| 英文名称： |
Test method for microzone homogeneity of semi-insulating monocrystal gallium arsenide |
 中标分类： |
>>>>H8
电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料 |
| 发布日期： |
2002-10-30 |
| 实施日期： |
2003-03-01
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| 起草单位： |
中国电子科技集团公司第四十六所 |
| 页数： |
13页 |
| 出版社： |
工业电子出版社 |
| 出版日期： |
2004-04-19 |
| 标准前页： |
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