超辐射发光二极管组件测试方法 |
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标准编号:SJ 20785-2000 |
标准状态:现行 |
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标准价格:20.0 元 |
客户评分: |
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本标准规定了超辐射发光二极管组件光电参数的测试方法。
本标准适用于超辐射发光二极管组件(以下简称“组件”)光电参数测试。 |
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英文名称: |
Measuring methods for super luminescent diode module |
中标分类: |
>>>>L5980 |
发布部门: |
中华人民共和国信息产业部 |
发布日期: |
2000-10-20 |
实施日期: |
2000-10-20
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归口单位: |
中国电子技术标准化研究所 |
起草单位: |
电子工业部第44研究所 |
起草人: |
魏进、易向阳、常利发、李春芳 |
页数: |
28页 |
出版社: |
工业电子出版社 |
出版日期: |
2004-04-19 |
标准前页: |
浏览标准前文 || 下载标准前页 |
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GB/T 15651-1995 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件 |
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