工业硅化学分析方法 第6部分：碳含量的测定 红外吸收法 |
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| 标准编号：GB/T 14849.6-2014 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：24.0 元 |
客户评分：  |
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GB/T14849的本部分规定了工业硅中碳含量的测定方法。
本部分适用于工业硅中碳含量的测定,测定范围:0.010%~0.50%。 |
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| 英文名称： |
Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 6:Determination of carbon—Infrared absorption method |
 中标分类： |
冶金>>金属化学分析方法>>H12轻金属及其合金分析方法 |
| ICS分类： |
冶金>>有色金属>>77.120.10铝和铝合金 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2014-12-05 |
| 实施日期： |
2015-03-01
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| 归口单位： |
全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243) |
| 起草单位： |
昆明冶研新材料股份有限公司、昆明冶金研究院、云南永昌硅业股份有限公司 |
| 起草人： |
赵建为、张云晖、赵德平、亢若谷、周杰、王云舟、王宏磊、谢秦、金波、杨晓静、刘英波、唐飞、陈科彤、聂长虹 |
| 页数： |
8页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2015-03-01 |
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GB/T14849《工业硅化学分析方法》分为9个部分:
———第1部分:铁含量的测定 1,10-二氮杂菲分光光度法;
———第2部分:铝含量的测定 铬天青-S分光光度法;
———第3部分:钙含量的测定 火焰原子吸收光谱法、偶氮氯膦Ⅰ分光光度法;
———第4部分:杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱;
———第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法;
———第6部分:碳含量的测定 红外吸收法;
———第7部分:磷含量的测定 钼蓝分光光度法;
———第8部分:铜含量的测定 PADAP分光光度法;
———第9部分:钛含量的测定 二安替比林甲烷分光光度法。
本部分为 GB/T14849的第6部分。
本部分按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)归口。
本部分负责起草单位:昆明冶研新材料股份有限公司、昆明冶金研究院、云南永昌硅业股份有限公司。
本部分参加起草单位:云南出入境检验检疫局、通标标准技术服务有限公司广州分公司、洛阳中硅高科技有限公司、浙江合盛硅业有限公司。
本部分主要起草人:赵建为、张云晖、赵德平、亢若谷、周杰、王云舟、王宏磊、谢秦、金波、杨晓静、刘英波、唐飞、陈科彤、聂长虹。 |
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