合成信号发生器通用规范 |
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| 标准编号：GB/T 12114-2013 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：49.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了合成信号发生器术语和定义、通用技术要求、试验方法、质量检验规则和包装运输等内容。
本标准适用于各种类型的合成信号发生器。具有合成信号发生器功能的插入单元或附属装置的测量仪器可以参照本标准。 |
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本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准代替GB/T12114—1989《高频信号发生器通用技术条件》、GB/T12115—1989《高频信号发生器测试方法》、GB/T12180—1990《低频信号发生器通用测试方法》、GB/T12181—1990《低频信号发生器通用技术条件》、GB/T13183—1991《扫频信号发生器通用技术条件》、GB/T13184—1991《扫频信号发生器测试方法》。
与GB/T12114—1989、GB/T12115—1989、GB/T12180—1990、GB/T12181—1990、GB/T13183—1991、GB/T13184—1991相比,主要变化如下:
———将原六项标准整合为一项标准;
———删除了原标准中已不再使用的和引用标准中已存在的术语和定义,并对部分术语内容进行了修改;
———删除了“增量频率范围及误差”“频率重调误差”“单频频率的重调误差”“频率标志误差”“热分布”“设计余量与模拟误用”等要求和试验方法;(见GB/T12114—1989、GB/T12115—1989、
GB/T13183—1991、GB/T13184—1991);
———增加了“输入输出接口”“功能特性”“矢量调制带宽”“误差矢量幅度”“幅度误差”“相位误差”“原点偏移”等要求和试验方法(见第4章、第5章);
———更新了“安全性”“环境适应性”“包装运输”“电磁兼容性”“电源适应性”“可靠性”的要求和试验方法(见第4章、第5章);
———更新了“质量检验规则”中的部分内容(见第6章)。
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本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本标准由全国电子测量仪器标准化技术委员会(SAC/TC153)归口。
本标准起草单位:中国电子科技集团公司第四十一研究所、工业和信息化部电子工业标准化研究院。
本 标准主要起草人:樊晓腾、刘亮、盛振旗、黄英华、左永锋、曹玲、张伟。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T12114—1989;
———GB/T12115—1989;
———GB/T12180—1990;
———GB/T12181—1990;
———GB/T13183—1991;
———GB/T13184—1991。 |
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GB/T191—2008 包装储运图示标志
GB/T6587—2012 电子测量仪器通用规范
GB/T6592—2010 电工和电子测量设备性能表示 |
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