液晶显示器件 第1部分：总规范 |
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| 标准编号：GB/T 18910.1-2012 |
标准状态：已作废 |
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| 标准价格：49.0 元 |
客户评分：  |
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GB/T18910的本部分是液晶显示器件的总规范。它规定了IECQ 体系质量评定的通用程序,并给出了电光特性测试方法的通用要求,给出了气候、机械和耐久性试验方法。
本部分适用于液晶显示器件,包括液晶显示屏和液晶显示模块。 |
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| 英文名称： |
Liquid crystal display devices—Part 1:Generic specification |
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
被GB/T 18910.11-2024代替;替代GB/T 18910.1-2002 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L47其他 |
| ICS分类： |
电子学>>31.120电子显示器件 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2012-12-31 |
| 实施日期： |
2013-06-01
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| 作废日期： |
2024-08-01
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| 提出单位： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 归口单位： |
中国电子技术标准化研究院 |
| 起草单位： |
中国电子技术标准化研究院 |
| 起草人： |
赵英 |
| 页数： |
28页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2013-06-01 |
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GB/T18910《液晶显示器件》分为如下部分:
———第1部分:总规范;
———第1-1部分:术语和符号;
———第2部分:液晶显示模块 分规范(GB/T18910.2—2003,IEC61747-2:1998,IDT);
———第2-1部分:无源矩阵单色液晶显示模块 空白详细规范(GB/T18910.21—2007,IEC61747-2-1:1998,IDT);
———第2-2部分:彩色矩阵液晶显示模块 空白详细规范(GB/T18910.22—2008,IEC61747-2-2:2004,IDT);
———第3部分:液晶显示屏 分规范(GB/T18910.3—2008,IEC61747-3:1998,IDT);
———第3-1部分:液晶显示屏 空白详细规范;
———第4部分:液晶显示模块和屏 基本额定值和特性(GB/T18910.4—2007,IEC61747-4:1998,IDT);
———第4-1部分:彩色矩阵液晶显示模块 基本额定值和特性(GB/T18910.41—2008,IEC61747-4-1:2004,IDT);
———第5部分:环境、耐久性和机械试验方法(GB/T18910.5—2008,IEC61747-2:1998,IDT);
———第6部分:液晶显示器件测试方法系列标准。
本部分为GB/T18910的第1部分。
本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分代替GB/T18910.1—2002《液晶和固态显示器件 第1部分:总规范》。
本部分与GB/T18910.1—2002相比主要变化及其原因,在附录A 中给出以供参考。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由中国电子技术标准化研究院(CESI)归口。
本部分起草单位:中国电子技术标准化研究院。
本部分主要起草人:赵英。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T18910.2—2002。 |
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下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T4589.1—2006 半导体器件 第10 部分:分立器件和集成电路总规范(IEC60747-10:1991,IDT)
GB/T17573—1998 半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则(idtIEC60747-1:1983)
GB/T18910.5—2008 液晶和固态显示器件 第5 部分:环境、耐久性和机械试验方法(IEC61747-5:1998,IDT)
GB/T18910.11—2012 液晶显示器件 第1-1部分:术语和符号
GB/T18910.61—2012 液晶显示器件 第6-1部分:液晶显示器件测试方法 光电参数IEC60068(所有部分) 环境试验(Environmentaltesting)
IEC60410:1973 计数检查抽样方案和程序(Samplingplansandproceduresforinspectionbyattributes)
IEC60747(所有部分) 半导体器件 分立器件(Semiconductordevices—Discretedevices)
IEC60748(所有部分) 半导体器件 集成电路(Semiconductordevices—Integratedcircuits)
IEC60749:1996 半导体器件 机械和气候试验方法(Semiconductordevices—Mechanicalandclimatictestmethods)
QC001002:1986 IECQ 电子元器件质量评定体系的程序规则(RulesofProcedureoftheIEC
QualityAssessmentSystemforElectronicComponents(IECQ))
ISO1101:1983 技术制图 几何公差 形状、位置和偏差公差 总则、定义、符号和图样表示法
(Technicaldrawings—Geometricaltolerancing—Tolerancingofform,orientation,locationandrunout—
Generalities,definitions,symbols,indicationsondrawings)
ISO2859(所有部分) 计数检查抽样程序(Samplingproceduresforinspectionbyattributes) |
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