X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量 |
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| 标准编号：YS/T 702-2009 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：14.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了规定了X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的分析原理、仪器设备、分析步骤及分析重复性、精密性等。
本标准适用于氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的测定。测定范围：SiO2：0.005％～0.08％，Fe2O3：0.004％～0.07％；Na2O：0.20％～0.80％。
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| 英文名称： |
Determination of silicon oxide,Iron oxide,Sodium oxide content of Aluminum Hydroxide by X-ray fluorescence spectrometric method |
 中标分类： |
冶金>>冶金原料与辅助材料>>H30冶金原料与辅助材料综合 |
| ICS分类： |
冶金>>有色金属>>77.120.10铝和铝合金 |
| 发布部门： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 发布日期： |
2009-12-04 |
| 实施日期： |
2010-06-01
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| 提出单位： |
全国有色金属标准化技术委员会 |
| 归口单位： |
全国有色金属标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
全国有色金属标准化技术委员会 |
| 起草单位： |
中国铝业股份有限公司广西分公司 |
| 起草人： |
秦文忠、邓文军、杨韵屏、梁愈斌、何麒麟、张爱芬、马慧侠、蒋炜、邓飞、孙洪斌 |
| 页数： |
8页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2010-06-01 |
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本标准由全国有色金属标准化技术委员会提出并归口。
本标准附录A 为资料性附录。
本标准由中国铝业股份有限公司广西分公司负责起草。
本标准参加起草单位:中国铝业股份有限公司郑州研究院、洛阳香江万基铝业有限公司、中国铝业有限公司河南分公司。
本标准主要起草人:秦文忠、邓文军、杨韵屏、梁愈斌、何麒麟、张爱芬、马慧侠、蒋炜、邓飞、孙洪斌。
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