微束分析 扫描电子显微术 术语 |
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| 标准编号：GB/T 23414-2009 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：54.0 元 |
客户评分：  |
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本标准定义了扫描电子显微术(SEM)实践中使用的术语。包括一般术语和按技术分类的具体概念的术语,也包括已经在ISO23833中定义的术语。
本标准适用于所有有关SEM 实践的标准化文件。另外,本标准的某些术语定义,也适用于相关领域的文件〔例如:电子探针显微分析(EPMA)、分析电子显微术(AEM)、能谱法(EDX)等〕。
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| 英文名称： |
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary |
 中标分类： |
仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器 |
| ICS分类： |
01.040.37:37.020 |
| 采标情况： |
IDT ISO 22493:2008 |
| 发布部门： |
国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2009-04-01 |
| 实施日期： |
2009-12-01
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| 首发日期： |
2009-04-01 |
| 提出单位： |
全国微束分析标准化技术委员会 |
| 归口单位： |
全国微束分析标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
国家标准化管理委员会 |
| 起草单位： |
中国科学院上海硅酸盐研究所 |
| 起草人： |
李香庭、曾毅 |
| 计划单号： |
20067089-T-469 |
| 页数： |
32页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2009-12-01 |
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本标准等同采用国际标准ISO22493:2008《微束分析 扫描电子显微术 术语》(英文版)。
为了便于使用,本标准做了下列编辑性修改:
---本国际标准一词改为本标准;
---删除国际标准的前言。
---扫描电子显微镜简称扫描电镜。
---增加了中文索引。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。
本标准起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所。
本标准主要起草人:李香庭、曾毅。
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前言Ⅰ
引言Ⅱ
1 范围1
2 缩略语1
3 SEM 物理基础术语1
4 SEM 仪器术语5
5 SEM 成像和图像处理术语10
6 SEM 图像诠释和分析术语14
7 SEM 图像放大倍率和分辨率校正及测量术语16
参考文献18
中文索引19
英文索引22
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