辐射防护仪器α、β和α／β（β能量大于60keV)污染测量仪与监测仪 |
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| 标准编号：GB/T 5202-2008 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：54.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了直接测量或直接探测发射α和／或β核素的表面污染测量仪与监测仪的一般特性、一般试验条件、辐射特性、电气安全、环境特性等。本标准适用于直接测量或直接探测发射α和／或β核素的表面污染测量仪和监测仪。本标准等同采用ＩＥＣ６０３２５：２００２《辐射防护仪器 α、β和α／β（β能量＞６０ｋｅＶ）污染测量仪和监测仪》（英文版）。 本标准代替ＧＢ／Ｔ５２０２—１９８５《α、β和α?β表面污染测量仪与监测仪》。
本标准与ＧＢ／Ｔ５２０２—１９８５相比主要变化如下：
ａ） 标准名称改为《辐射防护仪器 α、β和α／β（β能量大于６０ｋｅＶ）污染测量仪与监测仪》；
ｂ） 增加了“仪器分类”一章；
ｃ） 在“环境影响”一章中增加了“电磁兼容性”的内容，包括对“静电放电”、“射频电磁场”、“由脉冲
群和射频感应的传导骚扰”、“浪涌”、“电压暂降和短时中断”和“辐射发射”的要求和试验方法。 |
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| 英文名称： |
Radiation protection instrumentation—Alpha beta and alpha/beta(beta energy＞60 keV)contamination meters and monitors |
 替代情况： |
替代GB/T 5202-1985 |
| 中标分类： |
能源、核技术>>核仪器与核探测器>>F84辐射防护仪器 |
| ICS分类： |
环保、保健与安全>>13.280辐射防护 |
| 采标情况： |
IEC 60325:2002 IDT |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2008-01-22 |
| 实施日期： |
2008-09-01
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| 首发日期： |
1985-07-18 |
| 复审日期： |
2023-12-28 |
| 提出单位： |
中国核工业集团公司 |
| 归口单位： |
全国核仪器仪表标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
国防科技工业局 |
| 起草单位： |
深圳市计量质量检测研究院、中核集团西安核仪器厂 |
| 起草人： |
李名兆、沈忠义、周迎春、梁平 |
| 页数： |
28页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 书号： |
155066·1-31064 |
| 出版日期： |
2008-09-01 |
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本标准等同采用IEC60325:2002《辐射防护仪器 α、β和α/β(β能量>60keV)污染测量仪和监测仪》(英文版)。
为了便于使用,本标准对IEC60325:2002做了下列编辑性修改:
---删除国际标准的前言;
---在2 规范性引用文件中用采用国际标准的我国标准代替对应的国际标准,以GB/T4960.6代替IEC60050(393):1996和IEC60050(394):1995,删去了在正文中未出现的标准;
---删去10.3.1和10.3.1.1.1中有关交流电源不符合国情的内容;
---按照汉语习惯对一些编排格式进行了修改(例如:注的后面加:、一些列项说明的后面将。改为;;
---用小数点符号.代替国际标准中的小数点符号,;
---由于6.8已规定机械冲击的内容,故删去11.2 机械冲击,同时删去11.1 概述;
---表3β辐射一栏中的3.7 MBq与9.6.3的第2段370kBq不符,改为370kBq;
---表3预热时间(便携式仪器)一栏中的最后一行8.7.2与标准正文不符(正文中的8.7.2是过载保护的试验方法)改为8.5.2;
---表3电源一栏将频率中的+1Hz -3Hz改为47Hz 51Hz,与标准正文10.3.1.1.3
___________的表述一致;
---表3辐射发射一栏中的1V/m与10.4.6.1的0.1V/m不符,改为0.1V/m。
本标准代替GB/T5202-1985《α、β和α?β表面污染测量仪与监测仪》。
本标准与GB/T5202-1985相比主要变化如下:
a) 标准名称改为《辐射防护仪器 α、β和α/β(β能量大于60keV)污染测量仪与监测仪》;
b) 增加了仪器分类一章;
c) 在环境影响一章中增加了电磁兼容性的内容,包括对静电放电、射频电磁场、由脉冲群和射频感应的传导骚扰、浪涌、电压暂降和短时中断和辐射发射的要求和试验方法。
本标准由中国核工业集团公司提出。
本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会归口。
本标准起草单位:深圳市计量质量检测研究院、中核集团西安核仪器厂。
本标准主要起草人:李名兆、沈忠义、周迎春、梁平。
本标准于1985年7月首次发布。 |
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前言Ⅲ
1 范围1
2 规范性引用文件1
3 术语和定义2
4 单位4
5 仪器分类5
6 一般特性5
6.1 探测装置5
6.2 易于去污5
6.3 密封5
6.4 报警阈5
6.5 仪器指示值6
6.6 有效测量范围6
6.7 显示6
6.8 机械冲击6
6.9 电子设备的调整和维护附件6
7 一般试验方法6
7.1 试验6
7.2 概述7
7.3 本底7
7.4 统计涨落7
8 电气特性8
8.1 统计涨落8
8.2 响应时间8
8.3 响应时间与统计涨落之间的关系9
8.4 报警阈漂移9
8.5 (便携式仪器的)预热时间试验9
8.6 分辨时间10
8.7 过载保护10
8.8 工作坪(仅对于探测装置) 11
8.9 阈值(仅对于探测装置) 11
9 辐射特性11
9.1 概述11
9.2 仪器效率11
9.3 探测器表面的响应变化12
9.4 相对固有误差12
9.5 表面发射率响应随辐射能量的变化13
9.6 对其他电离辐射的响应14
9.7 本底计数率15
10 环境影响15
10.1 环境温度15
10.2 相对湿度16
10.3 电源16
10.4 电磁兼容性18
11 贮存19
12 文件19
12.1 合格证书19
表1 参考条件和标准试验条件20
表2 标准试验条件下进行的试验21
表3 改变影响量的试验21 |
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下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。
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