首饰 金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法 |
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| 标准编号：QB/T 1135-2006 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：8.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了用X射线荧光光谱法测量首饰金、银覆盖层厚度的方法。本标准适用于首饰及其他工艺品中金、银等覆盖层厚度的测定。 |
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| 英文名称： |
Jewellery-Measurement of gold and silver coating tickness-X-ray fluorescence spectrometric methods |
 替代情况： |
替代QB/T 1135-1991 |
| 中标分类： |
轻工、文化与生活用品>>工艺美术品与其他日用品>>Y88工艺美术品 |
| ICS分类： |
精密机械、珠宝>>39.060珠宝 |
| 采标情况： |
参照ISO 3497-2000 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家发展和改革委员会 |
| 发布日期： |
2006-08-19 |
| 实施日期： |
2006-12-01
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| 提出单位： |
中国轻工业联合会 |
| 归口单位： |
全国首饰标委会 |
| 起草单位： |
国家首饰质检中心 |
| 起草人： |
范积芳、李素青、李玉昆、李武军 |
| 批文号： |
18368-2006 |
| 页数： |
6页 |
| 出版社： |
中国轻工业出版社 |
| 书号： |
155019·2887 |
| 出版日期： |
2006-12-01 |
| 标准前页： |
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