GB/T 11685-1989 半导体X射线能谱仪的测试方法国家标准(GB)-工标网

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标准简介


英文名称：	Test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
标准状态：	已作废
替代情况：	被GB/T 11685-2003代替
中标分类：	能源、核技术>>核仪器与核探测器>>F80核仪器与核探测器综合
ICS分类：	计量学和测量、物理现象>>17.240辐射测量
采标情况：	IEC 759-1983 NEQ
发布日期：	1989-10-14
实施日期：	1990-05-01
作废日期：	2004-01-01
页数：	16页

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